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交流阻抗仪半导体芯片测试应用

交流阻抗仪半导体芯片测试应用

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相关产品:MFIAMF-IAHF2TAHF2LIHF2IS

 

应用领域

l  半导体芯片测试与表征

l  模拟混合信号性能测量

l  太阳能电池和LED(发光二极管)的表征

l  在晶片级测量PCM(过程控制监视器),例如电阻,电容,谐振和其他电参数

l  半导体键合优化。

 

目的

执行高通量半导体器件测试和表征。

 

优势

在交流阻抗仪半导体芯片测试应用中,HF2IS提供了2个信号发生器,2个测量单元和几种测量工具,可以低成本满足高端精度要求,从而提供了一种经济高效的测试和测量解决方案。

 

描述

交流阻抗仪半导体芯片测试应用

对半导体特性的最新要求包括以高通量方式对被测样品进行精确测量。这是增加数据点数量,减少漂移影响并保持测量周期较小所必需的。对于不希望在生产测试仪上执行测试序列并且正在寻求便捷,经济高效的测试和测量解决方案的工程师,HF2IS提供快速,灵活的信号生成功能,以及准确,即时的信号采集功能。HF2IS提供了直接在仪器内部运行用于信号生成和响应分析的软件的选项,从而在µHz50 MHz的宽频率范围内都具有出色的吞吐量和效率。

 

HF2IS阻抗谱仪的主要特性

灵活的刺激生成,立即的数据采集,快速的重复和参数更新,无缝的频率步进,超低噪声操作,超高稳定性时钟

l  1 µHz50 MHz频率范围

l  2个独立的测量单元,2个高频发生器

l  8个同时频率

l  2个辅助输入,4个辅助输出,32个数字I / ODIO

l  实时可编程性

l  集成频率响应分析仪,FFT频谱分析仪和示波器

 

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瑞士Zurich Instruments 官网资料整理